日本NLT科技在美國波士頓舉行的“SID 2012”上發表了關于On-cell型觸摸面板新型降噪技術的論文（論文序號：37.2）。【該公司曾在2010年的SID上發布過自主開發的On-cell型觸摸面板，該面板利用彩色濾光片基板與偏光板之間的防靜電ITO膜作為檢測觸摸的表面電極，屏幕尺寸為3.5英寸，但存在屏幕尺寸增大后液晶面板的噪聲變得明顯，導致觸摸面板誤操作的問題。】為解決這個問題，該公司開發出了此次的新型抗噪技術。
通常的降噪方法是采用帶通濾波器，但是與信號頻率相同的噪聲會通過帶通濾波器。而此次的降噪技術連這種噪聲也能除掉。下面就來介紹具體的實現方法。
NLT科技的On-cell型觸摸面板可在一定時間內持續向表面電極施加正弦波電壓，因此能夠在手指靠近觸摸面板時，捕捉到從表面電極向手指方向流動的電流，從而檢測到觸摸輸入。
此次發布的降噪技術會周期性地施加正弦波電壓，將加載電壓時與未加載電壓時的波形進行比較，可以推測出噪聲的振幅和相位。去除該噪聲后，就可以找出沒有誤操作的觸摸檢測所需要的信號。據NLT科技發表的論文介紹，現已將信噪比（S/N）從4.3提高至23.1。該公司此次試制出了采用該降噪技術的10.4英寸SVGA面板，并在SID 2012會場上進行了展示。
